PIXE چیست؟
۱- مقدمه
روش PIXE از جمله روشهاي آناليز غير مخرب بوده که اساس آن بيناب نمايي پرتوي ايکس است. اين روش از جمله قدرتمندترين روشهاي آناليز غير مخرب چند عنصري است که توانايي تشخيص عناصر مختلف حتي به ميزان بسيار کم را دارد. بيناب ثبت شدهي مربوط به اشعه ايکس ميتواند شامل اطلاعاتي از عناصر موجود در نمونه و اطلاعاتي از مقدار هر عنصر در نمونه باشد. وجود عنصري خاص از طول موج اشعهي ايکس گسيلي و مقدار آن با توجه به شدت اشعهي ايکس گسيلي در همان طول موج تعيين ميگردد.
روش PIXE روش آناليز عنصري دقيق و قدرتمندي است که در زمينههاي مختلفي از جمله بيولوژي، محيط زيست ، پزشکي ، باستانشناسي و ... کاربرد دارد.
هنگامي كه يك الكترون از لايهي اتمي خود خارج ميشود، حفرهي ايجاد شده در لايهي مذكور بوسيلهي يكي از الكترنهاي لايههاي خارجيتر پر ميشود. اختلاف انرژي ميان دو لايه با گسيل يك پرتوي ايكس توسط الكترون جبران ميشود.
2- اصول روش PIXE
در روش PIXE معمولا باريکهاي از پروتون با الکترونهاي اتمي نمونهي مورد نظر برهمکنش ميکنند(در PIXE برهمکنشي با هسته رخ نميدهد). در اين روش انرژي باريکهي فرودي بين 1 تا 4 مگاالکترون ولت ميباشد.
پروتون فرودي معمولا با داخلي ترين لايهيالکتروني(لايهي K) برهمکنش کولني انجام ميدهد و سبب خارج شدن الکترون موجود در اين لايه ميشود
در مرحلهي بعد حفرهي ايجاد شده در لايهي K با گذار يکي از الکترونهاي لايههاي بالاتر (L,M,N…) به اين لايه پر ميشود. نتيجهي گذار الكترون از لايههاي خارجي به لايههاي داخلي گسيل يك فوتون ايكس ميباشد . انرژي اين فوتون برابر با اختلاف انرژي دو تراز ميباشد.
چنانچه در شکل 2 مشاهده ميشود پروتون فرودي الکتروني از لايهي K خارج کرده وحفرهي ايجاد شده با الکتروني از لايهي L پر شده است. نتيجه گذار تابش پرتوي ايکس با انرژي برابر با اختلاف انرژي بين دو تراز است. از اين پرتوي ايکس به عنوان ايکس مشخصه ياد ميشود. انرژي اين پرتوي ايکس براي هر عنصر مقداري منحصر به فرد است و در PIXE از اين پرتو براي شناسايي عناصر استفاده ميشود.
البته ذکر اين نکته ضروري است که در فرآيند گذار الکتروني گسيل الکترونهاي اوژه در رقابت با گسيل پرتوي ايکس ميباشد. ممكن است اتم برانگيخته با گسيل الكترون از اخرين لايهي اتمي خود به حالت پايه برگردد. البته اين احتمال وجود دارد كه گسيل الكترون اوژه و پرتوي ايكس بصورت همزمان نيز رخ دهد.
ساطع شدن الکترونهاي اوژه در عناصر سبک با احتمال بيشتري رخ ميدهد.
3-بيناب پرتوي ايکس مشخصه
چنانچه ديديم برهمکنش کولني پروتون فرودي با الکترون اتمي مدار K سبب ايجاد يک حفره در اين لايه ميشود که اين حفره با يک الکترون از ترازهاي بالا (L يا M) پر ميشود. نتيجهي اين فرآيند ساطع شدن يک پرتوي ايکس است. انرژي پرتوي ايكس گسيلي از مشخصههاي عنصر مورد نظر ميباشد.
نامگذاريهاي پرتوهاي ايكس گسيلي با توجه به لايههايي كه گذار به آنها انجام ميشود صورت ميگيرد.
4- شدت خطوط و بهرهي فلورسانس
شدت يک خط مشخص در بيناب به سه عامل بستگي دارد(چنانچه خط را در نظر ميگيريم)
- احتمال اينکه پرتون فرودي الکتروني در لايهي را از جاي خود خارج کند.
- احتمال اينکه حفرهي ايجاد شده با الکترون پر شود.
- احتمال اينکه در اين حالت الکترون اوژه خارج نشود.
به احتمالات فوق بايد وزن آماري تراز نيز اضافه گردد. بطور مثال نسبت شدت برابر با ميباشد. اين خطوط ناشي از الکترونهايي ميباشد که از و خارج شده و وارد تراز ميباشد.
5- جريان و انرژي باريكهي يون
در ماشين واندوگراف انرژي ذرهاي با بار q كه در اختلاف پتانسيلV قرار ميگيرد برابر باqV مي باشد. بدين ترتيب چنانچه براي باريكهي پروتوني اختلاف پتانسيل معادل 3 مگاولت اعمال شود، انرژي باريكهي پروتوني معادل خواهد بود. چنانچه باريكهاي از يونهاي در اين اختلاف پتانسيل قرار بگيرد انرژي باريكه معادل ميشود.
بايد به اين نكته توجه كرد كه در روش PIXE انرژي باريكه از طرفي بايد به اندازهاي باشد كه پروتون بتواند يك الكترون را از لايههاي داخلي جدا كندو از طرفي اين انرژي بايد كمتر از سد كولني ميان پروتون و هستهي هدف باشد در غير اينصورت پروتون وارد هسته ميگردد و واكنش هستهاي رخ ميدهد. معمولا در اين روش بازهي انرژي قابل قبول بين 1 تا 4 مگاالكترون ولت خواهد بود
- جزئيات تجربي
روش PIXE داراي چهار مزيت زير است
- روش آناليز غير مخرب ميباشد.
- آناليز به سرعت انجام ميپذيرد.
- نمونه جهت انجام آناليز به سرعت آماده ميشود.
- دقت و حساسيت مناسب اين روش در تشخيص مفادير كم عناصر با عدد اتمي بزرگتر از 13.